HuisNieuwsTwee nieuwe testsystemen voor halfgeleiderapparaten

Twee nieuwe testsystemen voor halfgeleiderapparaten

Kant-en-klare testopstellingen voor halfgeleiders verkorten de kalibratietijd en helpen onderzoekers consistente resultaten te bereiken, van prototype tot productie.



Het testen van nieuwe halfgeleiderapparaten zoals siliciumcarbide (SiC) en galliumnitride (GaN) vereist vaak ingewikkelde opstellingen die tijd vergen om te bouwen en te kalibreren.Ingenieurs en onderzoekers hebben nauwkeurige resultaten nodig tijdens het testen om betrouwbare producten te kunnen ontwerpen.

De Microtest Group lanceert twee nieuwe testsystemen: Quasar200 en Pulsar600. Deze testtools lossen het probleem van ingewikkelde installatie op met plug-and-play, waardoor gebruikers kunnen beginnen met het testen van vermogenshalfgeleiderapparaten zonder aangepaste testopstellingen te bouwen of complexe bedrading uit te voeren.Dit helpt laboratoria en technici tijd te besparen terwijl ze betrouwbare, herhaalbare gegevens verzamelen.

De Quasar200 is ontworpen voor het testen van standaard en middenklasse vermogenshalfgeleiderapparaten gemaakt van silicium (Si), galliumnitride (GaN) en siliciumcarbide (SiC).Het richt zich op nauwkeurige DC- en AC-metingen, waardoor het geschikt is voor laboratoriumonderzoek, karakterisering van apparaten en de ontwikkeling van datasheets.

De Pulsar600 is gebouwd voor testen met hoge stroomsterkte en hoog vermogen, met name voor SiC-gebaseerde omvormers en autosystemen.Het ondersteunt kortsluit- en stresstests tot 1.000 A DC en meer dan 10.000 A AC, waardoor ingenieurs de prestaties en veiligheid kunnen valideren van de volgende generatie voedingsmodules die worden gebruikt in elektrische voertuigen en industriële toepassingen.

De systemen meten hoe halfgeleiderapparaten presteren onder hoge stroom en spanning.Quasar200 is gebouwd voor het testen van silicium-, GaN- en SiC-apparaten die worden gebruikt in elektronica en energiesystemen.Het voert snelle en nauwkeurige DC- en AC-metingen uit met weinig interferentie.Pulsar600 breidt deze mogelijkheid uit naar toepassingen met zeer hoge stroomsterktes, zoals het testen van auto's en omvormers, en kan tot 1.000 ampère DC en meer dan 10.000 ampère AC verwerken.

Beide systemen houden gedetailleerde auditlogboeken bij om de nauwkeurigheid van de gegevens te volgen.Hierdoor kunnen onderzoekers en bedrijven laboratoriumresultaten matchen met productietests op fabrieksniveau bij het ontwikkelen van datasheets of het kwalificeren van nieuwe apparaten.

Veiligheid is in beide systemen ingebouwd.Ze omvatten afgesloten testruimtes en de SocketSafe-bescherming van ipTEST, die de stroom isoleert wanneer apparatuur wordt geopend of er fouten optreden.Sockets met lage inductie verminderen elektrische ruis en verbeteren de teststabiliteit.


Belangrijkste kenmerken

Plug-and-play-installatie: kant-en-klare testsystemen die de noodzaak van op maat gemaakte rigs of soldeerverbindingen overbodig maken.
Brede apparaatondersteuning: Compatibel met apparaten van silicium (Si), galliumnitride (GaN) en siliciumcarbide (SiC).
Hoge stroomcapaciteit: Ondersteunt ultrahoge stroomtests tot 1.000 A DC en 10.000 A+ AC, geschikt voor SiC-omvormers en autosystemen.
Meetprecisie: ±0,1% nauwkeurigheid over alle spannings- en stroomgolfvormen.